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案例速遞|手機攝像頭模組底殼檢測

案例速遞|手機攝像頭模組底殼檢測

2026/4/10 13:49:32

檢測背景:

在手機攝像頭模組的精密制造流程中,模組底殼是鏡頭、CMOS傳感器、VCM馬達的核心承載與定位基準,其表面質(zhì)量直接決定模組的裝配精度、光學性能與長期使用可靠性。

檢測需求:

檢測對象:手機攝像頭模組底殼

檢測類型:表面劃痕、凹點、臟污

檢測精度:0.03mm/pixel

檢測方案:

常規(guī)2D視覺檢測:采用單一方向照明,僅捕捉表面反射光強,微小高度差對應的灰度變化極弱,且易受工件紋理干擾,缺陷特征被淹沒。

常規(guī)成像.png

(常規(guī)成像)

光度成像系統(tǒng).png

(光度成像系統(tǒng)-相對高度圖)

面陣光度成像系統(tǒng):采用固定面陣相機的同一視角下,通過4組不同方向的光源分時照明,采集同一檢測面的多幅灰度圖像。

四張1.png

四張2.png

四張3.png

四張4.png

(四張原圖)

再通過算法獲取表面的2.5D特征及多種面型特征,從而精準捕捉常規(guī)2D視覺無法識別的微觀缺陷。

彩色融合、.png

(彩色融合圖)

法向量圖.png

(法向量圖)

反射率圖.png

(反射率圖)

灰度融合圖.png

(灰度融合圖)

曲率圖.png

(曲率圖)

相對高度圖.png

(相對高度圖)

最大值融合圖.png

(最大值融合圖)

成像效果:

常規(guī)成像劃傷.png

常規(guī)成像(劃傷)

相對高度圖(劃傷).png

相對高度圖(劃傷)

常規(guī)成像劃傷2.png

常規(guī)成像(劃傷)

相對高度圖(劃傷2).png

相對高度圖(劃傷)

劃痕的高度差被精準放大,缺陷輪廓清晰銳利,對比度大幅提升。

常規(guī)成像(凹坑).png

常規(guī)成像(凹坑)

相對高度圖(凹坑).png

相對高度圖(凹坑)

常規(guī)成像(凸點).png

常規(guī)成像(凸點)

相對高度圖(凸點).png

相對高度圖(凸點)

凹坑、凸點的三維結(jié)構(gòu)被還原,缺陷位置、缺陷特征一目了然,徹底區(qū)分真實缺陷。

產(chǎn)品介紹:

光度原頂光源.png

光度圓頂光源

內(nèi)置四個獨立照明區(qū)域,可通過邏輯控制器實現(xiàn)分區(qū)依次點亮獲取圖像。再利用光度立體技術,通過陰影恢復表面的相對高度特征,獲取表面的2.5D特征以及多種面型特征。解決非反光產(chǎn)品表面的2.5D及棱邊缺陷。

應用案例:

應用案例.png

審核編輯(
王靜
)
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