檢測背景：

光學薄膜是手機、平板、筆記本、車載中控和儀表盤屏幕的核心組件，這些薄膜直接貼合在屏幕背光源與顯示面板之間，任何缺陷都會直接影響屏幕成像畫質與視覺顯示效果，那么該如何進行檢測呢？

檢測需求：

檢測對象：光學薄膜

檢測類型：薄膜表面各類缺陷

像素精度：0.02mm/pixel

檢測方案：

相機：8K線掃相機

鏡頭：FA鏡頭

光源：線形光源 LN5系列

方案說明：

本方案采用單臺線掃工業相機垂直于樣品表面拍攝，配合兩根線形光源構建了分時成像系統。

（成像示意圖）

上方斜射光源：在樣品上方側邊，傾斜布置線形光源。斜射光能夠突出薄膜表面的微小劃痕缺陷，當遇到劃痕、印子等缺陷時，會產生反射差異，在圖像中形成清晰的亮暗對比。

下方錯位背光光源：在樣品正下方布置第二根線形光源，但不與相機和樣品垂直對齊，而是刻意錯開一定距離。在成像區域形成了自然的明暗過渡帶。對于電熱膜拉伸不勻、油污、氣泡等內部缺陷，會在明暗過渡帶中呈現出獨特的輪廓特征，大大提高了缺陷的辨識度。